백색광 간섭계를 이용한 표면 특성 분석

Polytec의 TopMap Metro.Lab은 수직 범위 및 나노 미터 해상도가 큰 고정밀 백색광 간섭계 (coherence scan interferometer)입니다. 즉, Metro.Lab 지형 측정 시스템은 부드럽고 섬세한 재료에서도 큰 표면과 구조물의 평탄도, 계단 높이 및 평행도의 비접촉 측정에 이상적입니다.

완벽한 측정 스테이션 인 TopMap Metro.Lab은 거의 모든 표면에서 대 면적 지형을 측정하고자 할 때 최적의 솔루션입니다. 70mm의 큰 수직 측정 범위를 통해 어려운 조건에서도 서브 나노 미터 분해능으로 측정을 수행 할 수 있습니다.

TopMap Metro.Lab은 비용 대비 큰 가치를 제공하므로 계측 연구소에서 근무하든 생산 현장에서 작업하든 사용하기에 특히 매력적입니다. 이전에 촉각 시스템을 사용했던 많은 작업을 처리합니다. 모든 TopMap 시스템과 마찬가지로 개방형 소프트웨어 아키텍처를 통해 일상적인 작업을 프로그래밍하거나 고유 한 사용자 인터페이스를 설정할 수 있습니다.

주요기능

• 광학 간섭 측정 원리로 인한 비접촉
• 텔레 센 트릭 렌즈로 인해 가파른 섹션 (예 : 드릴 구멍)에서도 측정 가능
• 70mm 범위로 유연성
• 넓은 영역의 빠른 측정
• 향상된 버전으로 최대 약 80 x 80 mm의 큰 측정 필드
• 사용하기 쉽고 자동화 가능한 소프트웨어, DIN / ISO 호환 매개 변수 생성
• Smart Surface Scanning으로 인해 거의 모든 표면, 반사율이 매우 다른 표면에도 적합
• 기계 홀에서 사용하기 위해 방진 및 진동 방지 워크 스테이션에 통합 가능