백색광 간섭계를 이용한 표면 특성 분석
Polytec의 TopMap Metro.Lab은 수직 범위 및 나노 미터 해상도가 큰 고정밀 백색광 간섭계 (coherence scan interferometer)입니다. 즉, Metro.Lab 지형 측정 시스템은 부드럽고 섬세한 재료에서도 큰 표면과 구조물의 평탄도, 계단 높이 및 평행도의 비접촉 측정에 이상적입니다.
완벽한 측정 스테이션 인 TopMap Metro.Lab은 거의 모든 표면에서 대 면적 지형을 측정하고자 할 때 최적의 솔루션입니다. 70mm의 큰 수직 측정 범위를 통해 어려운 조건에서도 서브 나노 미터 분해능으로 측정을 수행 할 수 있습니다.
TopMap Metro.Lab은 비용 대비 큰 가치를 제공하므로 계측 연구소에서 근무하든 생산 현장에서 작업하든 사용하기에 특히 매력적입니다. 이전에 촉각 시스템을 사용했던 많은 작업을 처리합니다. 모든 TopMap 시스템과 마찬가지로 개방형 소프트웨어 아키텍처를 통해 일상적인 작업을 프로그래밍하거나 고유 한 사용자 인터페이스를 설정할 수 있습니다.