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표면 계측 시스템 안내
Polytec사의 표면형상 측정장비는 거친 표면, 부드러운 표면, 각져있는 표면을 혁신적인 고정밀 3차원 profilometer 기술로 측정한다. TMS 시리즈는 coherent 혹은 vertical scanning interferometry와 coherence radar로 알려진 백색광 간섭계를 기반으로 제작되었으며, 큰 수직 범위와 나노미터 해상도로 soft한 재료를 포함하여 평탄도와 거칠기, 큰 표면과 구조의 높이차와 평행 정도를 알아내는 데에 적합한 도구이다.

표면조도 측정장비

측정대상물의 정밀한 표면 정보와 공차 등을 측정하기 위해서 높은 정밀도의 계측 시스템을 필요로 합니다. 정밀하게 설계된 Polytec사의 백색광 간섭계는 서브 나노미터의 정확도를 가지며, 타사 대비 넓은 FOV(Field of view)와 빠른 측정시간은 최고의 장점이라 할 수 있습니다.

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TopMap QC 패키지
품질 관리 (QC) 작업을위한 스마트 기능의 완전히 새로운 패키지가 이제 TopMap 3D 표면 프로파일 링 시스템에서 사용할 수 있습니다. TopMap QC Package는 특히 까다로운 생산 환경에서 표면 검사를 지원합니다.

완벽한 측정 스테이션 인 TopMap Metro.Lab은 거의 모든 표면의 대 면적 지형에 이상적입니다. 돈을 위해 큰 가치를 제공하기 때문에 작업이 적은 중소기업에도 매력적입니다.

TopMap Metro.Lab

TopMap In.Line의 컴팩트 한 디자인은 생산 라인에 쉽게 통합 될 수 있으며 다른 반사 표면의 검사를 신속하게 수행 할 수 있음을 의미합니다.계단 더 큰 잔물결 또는 기타 표면 구조는 여기에 어떠한 문제도 제기하지 않습니다.

TopMap In.Line

신속하고 정확한 3D 표면 특성화에 이상적입니다. 면적 측정을 통해 세부 사항을 간과하지 않습니다. 짧은 측정 시간과 넓은 시야가 TopMap Pro.Surf의 특징입니다.

TopMap Pro.Surf

Polytec의 올인원 3D 광학 표면 프로파일 러. 백색광 간섭계의 정밀도. 하나의 장치로 결정된 형태 편차 및 거칠기를 극복하기위한 색 공 초점 센서로 보완. Pro.Surf +는 넓은 영역에서 지형을 측정하고 나노 미터 해상도의 구조물을 특성화합니다

TopMap Pro.Surf +

Polytec의 올인원 3D 광학 표면 프로파일 러. 백색광 간섭계의 정밀도. 하나의 장치로 결정된 형태 편차 및 거칠기를 극복하기위한 색 공 초점 센서로 보완. Pro.Surf +는 넓은 영역에서 지형을 측정하고 나노 미터 해상도의 구조물을 특성화합니다

TopMap μ.Lab

적용분야

Automotive, Micro and Nanotechnology, Electronics, Semiconductors and Solar, Data Storage, Steel, aluminum, metal, Glass and Transparent Materials, Precision Engineering, Biology and Medicine 

Automotive

자동차

Drivetrain 구동계: TopMap In.Line, TopMap Pro.Surf, TopMap Pro.Surf+

Sealing Surfaces 밀봉 표면 : TopMap In.Line, TopMap Pro.Surf, TopMap Pro.Surf+ 

Fuel Injection Systems  연료 분사 시스템 : TopMap In.LineTopMap Pro.Surf+

Shock Absorbers 충격 흡수제 : TopMap In.Line, TopMap µ.Lab, TopMap Metro.Lab, TopMap Pro.Surf

Pass/Fail Analysis 합격/ 불합격 분석 : TopMap In.Line, TopMap Pro.Surf

Tribology 마찰 학  : TopMap In.Line, TopMap µ.Lab, TopMap Metro.Lab, TopMap Pro.Surf,TopMap Pro.Surf+

Micro and Nanotechnology

마이크로 및 나노 기술

Lab-on-a-Chip 랩 온어 칩 : TopMap Pro.Surf, TopMap µ.Lab

MEMS : TopMap In. Line, TopMap Pro.Surf, TopMap µ.Lab

Vertical Interconnect Access(VIA) 수직 상호 연결 액세스: TopMap µ.Lab

Electronics, Semiconductors and Solar

전자, 반도체 및 태양

Electronic Contacts 전자 연락처 : TopMap In.Line, TopMap µ.Lab, TopMap Metro.Lab, TopMap Pro.Surf

High Power Laser Diodes 고출력 레이저 다이오드 : TopMap In.Line, TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf 

Mobile Devices  모바일 기기 : TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf

Pass/Fail Analysis 합격/ 불합격 분석 : TopMap In.Line, TopMap Pro.Surf +

Solder Bumps 솔더 범프 ; TopMap In.Line, TopMap Metro.Lab, TopMap Pro.Surf 

Data Storage

데이터 저장

Bearings : TopMap In.Line, TopMap Metro.Lab, TopMap Pro.Surf 

Disc Flatness 디스크 평탄도 : TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf 

Read/Write Head 읽기/ 쓰기 헤드 : TopMap In.Line, TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf 

Steel,aluminum, metal

철강, 알루미눔 및 금속

Form deviation & roughness 형태 편차 및 거칠기 :  TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf 

Texturing 텍스처링 :TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf +

Glass and Transparent Materials

유리 및 투명 재료

Flatness  평탄 : TopMap Metro.Lab, TopMap Pro.Surf 

Layer Thickness 층 두께 : TopMap Metro.Lab, TopMap Pro.Surf 

Precision Engineering

정밀공학

Form Parameters 양식 매개 변수 : TopMap In.Line, TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf ,TopMap Metro.Lab

Material Distribution 재료 분배 : TopMap In.Line, TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf ,TopMap Metro.Lab

Pass/Fail Analysis 합격/ 불합격 분석 : TopMap In.Line, TopMap Pro.Surf+

Precision Mechanics 정밀 역학: TopMap In.Line, TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf ,TopMap Metro.Lab

Tribology 마찰 학: TopMap In.Line, TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf ,TopMap Metro.Lab

Biology and Medicine

생물학과 약

Lab-on-a-Chip 랩 온어 칩 :  TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf

Fill Level

Implants 임플란트TopMap µ.Lab, TopMap Pro.Surf